第二節 X線頭影測量
X線頭影測量法於1931年由Broad Bent開始使用。是對定位X線頭顱側位像進行定量的測量分析，從而了解牙、頜、顱麵軟硬組織的結構情況及相互關係。此分析法是診斷牙頜畸形的重要手段。另外，還應用於矯治過程中及矯治後牙頜麵形態變化的研究，顱麵生長發育的研究，外科正畸的診斷和矯治設計，下頜功能分析等方麵。
近些年來興起的電子計算機X線頭影測量，提高了測量的效率和準確性。隨之而發展起來的多因素分析不僅簡化了測量項目，而且提高了測量分析的可靠性。
—、頭顱定位X線照像
1.用頭顱定位儀在嚴格定位的情況下攝照X線頭側位片。定位儀上的兩個耳塞分別進入患者左右外耳道，然後調整頭部，將頭部固定在眼耳平麵與地平麵平行的位置上。
2.X線投照的距離一般不應小於150cm。應盡量使頭部與膠片盒緊貼，以減少其放大誤差。每次照像時使頭位、X線球管及膠片三者之間關係維持恒定。這樣在不同個體，或同一個體不同時期所得的X線片，其測量結果才能進行比較。相片要求清晰地顯示出頭部、麵頜部的形態結構及側麵軟組織輪廓。
二、描繪頭彩圖
人工的X線頭影測量是在描繪的頭影圖上進行。描圖的方法是：將一張透明膠片放在X線頭側位片上，四周用曲別針固定，以免膠片在X線片上滑動。然後放在看片燈上，這時頭影清晰可見，用鋼筆將頭影及所需要的解剖標誌描繪在透明膠片上。再用硬鉛筆把透明膠片上的圖轉描在硫酸描圖紙上。最後在描圖紙上進行測量。電子計算機進行測量可省去描圖這一步，應用帶有看片燈的數字化儀可直接將標誌點入主機，進行測量運算。
三、常用的基準平麵
基準平麵是在X線頭影測量中作為相對穩幸的平麵。其用途有二：①與各測量標誌點或平麵形成角度、線距等測量項目；②同一個體同時期的頭側位片進行比較時，作為相互重疊的平麵，以了解在治療過程中牙、頜形方麵產生的變化。
1.前顱底平麵SN由蝶鞍中心點（S）與鼻根點（N）之連線組成。
2.眼耳平麵FH：由耳點（P）與眶點（Or）連線組成。
四、常用的X線頭彩測量分析法及正常值
X線頭影測量問世50多年來，許多國家及許多地區都建立了自己的頭影測量的正常值，廣泛地應用在正畸臨床及研究中，這一測量分析法不斷地向前發展，學者們提出的測量分析方法已有幾十種。1982年，我科開始了為取得北京市地區應用計算機進行測量的正常值的課題研究。
在這一課題研究中，我們選擇了北京市160名幼兒園兒童和中、小學生作為研究對象。他們都是漢族人，身體健康，牙列完整無缺、排列整齊，上下牙弓為中性頜關係，覆蓋正常，麵形端正，從未接受過正畸治療。按牙齡分為乳牙、替牙、恒牙早期三組，乳牙期組共60名（男30.女30），平均年齡男性4.9歲，女性4.8歲；替牙期組共60名（男30.女30），平均年齡男性9.3歲，女性9.5歲；恒牙早期組共40名（男20.女20），平均年齡男性12.8歲，女性12歲。
每人照定位頭側位X線相片一張。攝照時在中性頜位，唇自然閉合。用透明描圖紙將X線相片上的頭影描繪下來，在描繪的頭影圖上定標誌點，並按該圖順序編號。然後用TDSM型數字化儀按編號順序逐一將標誌點輸入微型機，微型機運算測出各項角度和線距，用首都醫學院編的統計學程序得出均值、標準差、檢驗P值，通過打印輸出數據結果；通過SR—6602型繪圖儀輸出圖形結果。