正文 第一章 錯頜畸形的檢查及診斷分析(三)(1 / 3)

第三節 牙頜模型的立體攝影測量

一、牙頜模型的分析、肩量和應用

(一)分析的主要內容

1.牙列發育情況,頜時期(發育階段)牙齒萌出的數目、位置,錯頜分類,第一磨牙的咬合關係。

2.前後牙覆頜、覆蓋,上下牙弓的形狀,中線,牙列擁擠度。

3.齶部形狀、對稱性,齶蓋髙度。

4.上下牙弓長度、寬度,牙弓與齒槽座的關係。

5.縱頜,橫頜曲線及縱頜曲線間的吻合度等。

(二)幾種常見的模型分析方法

(1)全長比和前長比達到Bdton值範圍者為上下牙弓協調。

(2)如果全長比均值說明上牙弓大,全長比>均值說明下牙弓大,這時再計算前長比,如果前長比值正常為後部牙弓不協調。

(3)以上均值和方法隻做為臨床診斷時參考的依據,還應結合麵部和全身的表現及X線頭影測量分析結果等加以綜合分析做出判斷。

二、牙頜模型立體攝影測量分析係統的建立和應用

牙頜模型能真實記錄牙齒、齶部、基骨的形態和位置。牙頜模型測量分析資料是口腔正畸學用以研究兒童牙頜生長發育、錯頜因素機製、矯治前後變化、矯治效果的評價及診斷與設計所必不可少的資料。國內外正畸醫師一直用石膏模型作牙頜資料的測量與保存用手工測量法做模型的測量與分析。但由於傳統的手工法受客觀因素所限,隻能作少量點、線的測量和分析,而許多能反映牙頜形態結構的主要資料,如牙弓、齒槽、頜曲線、頜平麵等及它們間的關係的定量分析結果是不能獲得的'。這種情況,長期限製了口腔醫學深入研究牙頜形態及牙頜模型分析和診斷工作的進展

近景立體攝影測量是屬於非接觸性測量的範圍,是近十幾年來發展起來的一門新技術,特別適合於不規則物體和生物活體的測量。此法能精確、迅速而簡便地獲得被測物體的全部信息,而被測物體不會因測量而變形或損壞,尤其是近10年來電子計算機技術的普遍應用及伴_發展的數據處理,使這項新技術得以迅速發雇。國外廣泛應用寧建築、工業及生物醫學方麵。Grume(1967年),Adams(1978年)首先應用立體攝影測量於牙齒、齶部的測量,報告的測量精度能滿足口腔醫學的需要。國內學者報道了用解析法立體攝影測量對正常人頜麵部標誌點進行測量,但研究內容僅限於傳統手工測量的範圍,僅獲得了少量而簡單的線性數據和其間無甚聯係的三維測量結果,參數的計算和存貯也隻采用鍵盤輸入,效率低且易出錯。我科自1985年提出建立由IBM-PC計算機與1818立體座標量測儀連機係統組成的計算機輔助的牙頜模型立體攝影測量分析係統(以下簡稱TM-SPS係統),經逐漸改進和完善,並用於50例恒牙早期正常頜及50例正畸各類錯頜患者的模型測量分析,結果表明:此係統測量分析精度高,計算參數種類多,數據量大(每付模型800個士),分析方法多,能對牙齒、牙弓、齒槽、齶部做定量分析,並繪製成圖,打印成表,計算機聯機係統工作效率高,診斷統計性能強。至今,國內外尚未見到在此方麵應用的技術及報道。

三、TM-SPS係統的組成和工作程序

1.組成:

硬設備包括:

①立體攝影部分:135普通相機,小型控製架,反光鏡。

②攝影測量部分:18x18立體座標量測儀,IBMPC—xt微機,M2024打印機,SR—6602繪圖儀。

軟件包括:

①控製測量程序(CPM)。

②相片觀測與計算程序(SPS)。

③牙模參數計算程序(TMP)。

④病例資料統計分析程序(TSA)。

⑤假設檢查程序(TPT)。

2.工作程序:

①牙頜模型的預備:選擇表麵清晰、無損壞的模型,在攝影前按規定用鉛筆準確地描記好各標誌點、線。標誌點,牙齒部130個,齶部30個,齒槽部40個標誌線,即一些標誌點的連線,齒槽、齶部曲線等。上下頜同名牙的標誌點按下列點序歸類點序:1點近中鄰麵點;2點近中切端或牙尖點;3點近中舌尖(齶尖)點;中央窩遠中舌尖(齶尖點);6點遠中切端或牙尖點;7點遠中鄰麵點;8點咬合點。這樣便於計算機程序利用,還為醫生識別TM-SPS係統計算機輸出數據表中的牙位及點號作參考依據,如表中所示:即代表右側上頜尖牙的牙尖點,代表右側上頜尖牙的遠中鄰麵點。