（2）細金屬絲方格網板定位：即采用細金屬絲方格網板，間距約為10mm，緊貼異物處頭皮與矢狀麵平行攝正側位X線片，側位片確定異物位於何一網格，正位片確定異物的深度。
（3）區域穿刺探測定位：術中在腦皮層表麵，放置孔徑約0.3~0.5cm的網板，將手術野等分為若幹個區域，用直徑0.2mm的圓頭探針按順序在各區域內垂直穿刺探測異物。穿刺深度參考術前X線片或CT片所得異物深度，觸及異物時，有阻力，加力後周邊腦組織可發生內陷樣改變。並可多次穿刺明確探及異物。
2.摘除方法
（1）腦內淺層異物：在局麻下鑽孔後，直接用磁力吸引或用鉗夾摘除。
（2）腦內深部異物：采用全麻下開顱手術，術中對異物采用區域穿刺，探測法再次定位。
（3）性質不同異物
①磁性異物：探及異物後，磁性異物一般應用磁力吸引摘除。
②非磁性異物：則采用鉗夾摘除。
（4）不同形狀異物：相對麵積大，邊緣銳利的異物，摘除時易造成損傷，需沿探針分開腦組織暴露異物後，直視下摘除。
傷道內依次注入雙氧水、慶大黴素鹽水反複衝洗。若遇出血，可電凝燒灼，直至衝洗液清亮為止。
三、腦立體定向摘取深部顱內異物
（一）腦立體定向摘取深部顱內異物
張炳勳報告，通過腦立體定向摘取深部顱內異物，效果良好。
1.儀器和方法采用DZY-A型大框架定向儀。患者剃頭消毒後，在距異物路徑最短，避開腦功能區及大血管處切開頭皮，鑽孔，然後頭顱固定在框架內，拍頭顱正側位片。計算放大係數及異物的三維坐標值。據計算X、Y、Z數值在定向儀上調整。使顱內異物的坐標值與導向儀上坐標值重疊，使用該儀器附件異物鉗或磁鐵棒。
2.注意事項顱內異物分磁性及非磁性兩類。對磁性金屬異物用磁棒吸取較為方便，對非磁性異物有鉗夾法和負壓吸引兩種。為避免反複操作而損傷血管導致顱內血腫、感染的可能，在X電視監視下可彌補其非直視操作的缺點，提高成功率，本組顱內異物均為直徑為5mm左右，采用上述方法獲得成功。若顱內異物直徑大於10mm，以采用立體定向開放直視手術為佳。
（二）立體定向顱內異物摘除術
陳明中等報告，火器性顱腦穿透傷，常伴有碎骨片、金屬塑料碎塊等異物存留顱內。其對57例顱內異物存留者，分別采用立體定向磁性探針摘除、負壓定向吸引以及金屬方格定位摘除，總成功率98.25%。
1.操作方法
（1）磁性導針定向摘除法：根據異物位置，選擇避開功能區、靠近異物而又便於照X線片的部位；局麻顱骨鑽孔，置小型定向儀，攝頭顱正側位片，計算出靶點的X，Y，Z軸的三維坐標數據。先用鈍頭腦室穿刺針進入皮層離靶點差lcm，造成腦通道，再沿通道送入磁性探針。當離靶點約0.3cm即可聽到哢喳金屬撞擊聲，並有吸附感，緩慢旋轉探針，使異物與磁頭垂直，如遇有阻力異物可自轉方向，同時可將附近的小片異物一同吸出。
（2）負壓吸引摘除法：對一些顱內深部無磁性的異物，如鉛彈、硬質塑料片、球等。頭顱素片異物性質可顯影者，可用軟頭吸引管吸出，方法如同安裝定向儀。用金屬吸引器管，前端接一近端壁厚遠端壁薄而軟，易變形的塑料小管，絲線拴牢，穿線經管內引出防止脫落。
2.結論其認為，定向磁性導針穿刺吸引手術簡便、安全、副損傷小，能一次性準確命中目標，鄰近的小彈片也可從較遠的方向自動吸附一同摘除。
第二節眼異物定位器及其定位方法
一、角膜異物定位
（一）時鍾區域法
沈建國等認為，至今尚無一種記錄角膜異物位置的統一方法。因此，他們認為用Wieson的時鍾區域法，記錄角膜異物比較實用。
1.定位方法角膜異物引起的疼痛投射到眼瞼，利用這種投射，參照Wilson的方法，讓病人自我定位後，指出角膜異物的位置。
（1）按描述不適部位並記錄，再用裂隙燈確定異物位置後，用時鍾區域法記錄異物位置。
（2）在表麵麻醉下用棉簽或7號針頭剔除異物，如一次剔除不盡，次日複診。
2.優點目前國內外還沒有一種記錄角膜異物位置的統一方法，毫無疑問，準確地記錄對醫學法律方麵有時顯得很重要。用Wieson的時鍾區域法記錄角膜異物比較準確和方便，將圖2刻成圖章使用起來更方便，旁邊注上符號予以說明更簡單明了。
3.缺點此法用於上瞼時角膜異物的準確定位較差，但是感覺在下瞼區域的很可能異物位於下1/2角膜，同樣，如果病人感覺到異物位於瞼裂部，那麼大部分角膜異物位於中央角膜帶上。異物位於鼻側或頸側與病人的感覺幾乎相符。
（二）角膜異物標記法
1.標記方法溫舉川等介紹，將角膜以瞳孔中央為原點的異物標記方法，一次性異物剔出幹淨者607例，占83.6%。方法如下：
（1）坐標法：3至9點鍾為水平軸，12至6點鍾為縱軸，分為四個象限（坐標法），A、B、C三個區域劃分以劉氏為準。
角膜緣至虹膜中點線間相對應的角膜區域為A區（adjacent，A）；
瞳孔緣至虹膜中點線間相對應的角膜區域為B區（between，B）；
瞳孔區相對應的角膜區域為C區（Centre，C）。
（2）淺深度：按角膜異物侵入角膜的淺深分3度：I度，異物在角膜前彈力層前；II度，異物侵及至基質層內；III度，異物穿透基質層或異物的部分已進入前房，但未傷及前房內結構。例如，第二象限A區II度異物5個，可標記為：2AII5；為了與齒科中牙齒記錄法相吻合也可標記為：AII5。
2.異物的處理方法對I或淺II度（前1/2基質層內）異物，可在裂隙燈下剔出。具體操作法為：1%地卡因充分表麻後，頭部固定於托架，調整好裂隙燈顯微鏡，左手拇食指撐開術眼上、下瞼，並稍加壓於眼球，以充分固定眼球。右手持一次性5號注射針（連接注射器），剔出異物。對深Ⅱ度（後1/2基質層）或Ⅲ度異物，均應在同軸手術顯微鏡下取出。術後單眼包紮、次日複診。
二、眼內異物定位器
（一）球內異物定位器
1.新型角膜緣環杆眼內異物定位器朱啟仲等介紹，應用新型三維角膜緣環-杆定位器，代替常規的異物定位圈（角膜緣金屬環），作眼球正側位X線攝片，並配合幾何比例圖，作出異物定位。
（1）材料準備
①新型三維定位器是在原金屬定位圈的基礎上，加一條垂直於定位圈平麵的粗細一致的金屬杆，其長度等於定位圈的直徑，一般為12mm。